Medidor integrado de espesor y densidad de área CDM
Principios de medición

Principios de la medición de la densidad superficial
Método de absorción de rayos X/β
Principios de medición de espesor
Correlación y triangulación láser
Características técnicas de las pruebas del CDM
Escenario 1: Hay una falta de 2 mm de ancho en la superficie del electrodo y un borde es más grueso (línea azul, como se muestra a continuación). Cuando el punto de luz es de 40 mm, el impacto de la forma de los datos originales medidos (línea naranja, como se muestra a continuación) se ve significativamente menor.

Escenario 2: datos de perfil del área de adelgazamiento dinámico con un ancho de datos de 0,1 mm

Características del software

Parámetros técnicos
Nombre | Índices |
Velocidad de escaneo | 0-18 m/min |
Frecuencia de muestreo | Densidad superficial: 200 kHz; espesor: 50 kHz |
Rango de medición de densidad superficial | Densidad superficial: 10~1000 g/m²; espesor: 0~3000 μm; |
Repetición de medición exactitud | Densidad superficial: Integral de 16s: ±2σ: ≤±valor verdadero * 0,2‰ o ±0,06 g/m²; ±3σ:≤±valor real * 0,25‰ o +0,08 g/m²; Integral de 4s: ±2σ: ≤±valor verdadero * 0,4‰ o ±0,12 g/m²; ±3σ: ≤±valor real * 0,6‰ o ±0,18 g/m²;Espesor: Zona de 10 mm: ±3σ: ≤±0,3 μm; Zona de 1 mm: ±3σ: ≤±0,5 μm; Zona de 0,1 mm: ±3σ: ≤±0,8 μm; |
Correlación R2 | Densidad superficial >99%; espesor >98%; |
Punto láser | 25*1400μm |
Clase de protección radiológica | Norma nacional de seguridad GB 18871-2002 (exención de radiación) |
Vida útil de los materiales radiactivos fuente | Rayos β: 10,7 años (vida media de Kr85); rayos X: > 5 años |
Tiempo de respuesta de la medición | Densidad de superficie < 1 ms; espesor < 0,1 ms; |
Potencia total | <3 kW |
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